par Mantrach, Amin ;Yen, Luh;Callut, Jérôme;Francoisse, Kevin;Saerens, Marco ;Shimbo, Masashi
Référence IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 32, 6, page (1112-1126), 4815265
Publication Publié, 2010
Référence IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 32, 6, page (1112-1126), 4815265
Publication Publié, 2010
Article révisé par les pairs
Titre: |
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Auteur: | Mantrach, Amin; Yen, Luh; Callut, Jérôme; Francoisse, Kevin; Saerens, Marco; Shimbo, Masashi |
Informations sur la publication: | IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 32, 6, page (1112-1126), 4815265 |
Statut de publication: | Publié, 2010 |
Sujet CREF: | Informatique générale |
Mathématiques | |
Informatique appliquée logiciel | |
Informatique mathématique | |
Intelligence artificielle | |
Mots-clés: | Betweenness measure |
Biased random walk | |
Commute time distance | |
Correlation measure | |
Graph mining | |
Kernel on a graph | |
Resistance distance | |
Semi-supervised classification. | |
Shortest path | |
Note générale: | SCOPUS: ar.j |
Langue: | Anglais |
Identificateurs: | urn:issn:0162-8828 |
info:doi/10.1109/TPAMI.2009.78 | |
info:scp/77951620680 |