Titre :
  • The influence of the sample thickness in the measurements of dielectric characteristics with transmission lines by the method of Roberts-Von Hippel
Auteur : Mandel, Michel ; Marco, C. C.
Informations sur la publication : Physica, 30, 3, (page 597-607)
Statut de publication : Publié, 1964-03
Sujet CREF : Sciences de l'ingénieur
Note : SCOPUS: ar.j
Langue :
  • Anglais
Identificateurs : urn:issn:0031-8914 
info:pii/0031891464901521