Titre :
  • Mapping 2-D defects in a conductive half-space by eigenfunction expansions in K-space of Fourier-Laplace transforms
Auteur : Litman, Amélie ; Lesselier, Dominique ; De Mol, Christine
Editeur scientifique : Collins, Roy ; Dover, W. D. ; Bowler, J. R. ; Miya, K.
Statut de publication : Publié, 1995
Informations sur la publication :
  • Collins, Roy ; Dover, W. D. ; Bowler, J. R. ; Miya, K., Nondestructive Testing of Materials, IOS Press, Amsterdam ; Washington, D.C., Studies in Applied Electromagnetics and Mechanics, 8, 9789051992397
Séries :
  • Studies in Applied Electromagnetics and Mechanics ; 8
Sujet CREF : Analyse harmonique
Statistique appliquée
Langue :
  • Anglais
Identificateurs : urn:isbn:9789051992397
VX-005559