par Pike, Edward Roy;Bertero, Mario ;De Mol, Christine
Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 0813, page (159-160)
Publication Publié, 1987
Article révisé par les pairs
Titre:
  • A new inversion procedure for confocal scanning microscopy and other bandlimited signal processing problems
Auteur:Pike, Edward Roy; Bertero, Mario; De Mol, Christine
Informations sur la publication:Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 0813, page (159-160)
Statut de publication:Publié, 1987
Sujet CREF:Analyse harmonique
Statistique appliquée
Note générale:Optics and the Information AgeHenri H. Arsenault (eds)Québec, Canada - August 24, 1987
SCOPUS: cp.p
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:0277-786X
info:doi/10.1117/12.967200
info:scp/84901246656
VX-005562