par Richert, Bertrand
Référence Biennale d'Onychologie (VII: 24 June, 2010: Saint Etienne)
Publication Non publié, 2010-06-24
Communication à un colloque
Titre:
  • Nouveaux outils diagnostiques en onychologie
Auteur:Richert, Bertrand
Informations sur la publication:Biennale d'Onychologie (VII: 24 June, 2010: Saint Etienne)
Statut de publication:Non publié, 2010-06-24
Sujet CREF:Dermatologie
Langue:Français