par Cecchini, Raimondo;Fabrizi, Alberto;Cabibbo, M.;Paternoster, Carlo ;Mavrin, Boris;Denisov, Victor;Novikova, Nadezhda;Haïdopoulo, M.
Référence Thin solid films, 519, 19, page (6515-6521)
Publication Publié, 2011-07
Référence Thin solid films, 519, 19, page (6515-6521)
Publication Publié, 2011-07
Article révisé par les pairs
Titre: |
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Auteur: | Cecchini, Raimondo; Fabrizi, Alberto; Cabibbo, M.; Paternoster, Carlo; Mavrin, Boris; Denisov, Victor; Novikova, Nadezhda; Haïdopoulo, M. |
Informations sur la publication: | Thin solid films, 519, 19, page (6515-6521) |
Statut de publication: | Publié, 2011-07 |
Sujet CREF: | Métallurgie |
Physique de l'état solide | |
Physique des surfaces | |
Chimie des solides | |
Mots-clés: | Chromium |
Fourier Transform Infrared spectroscopy | |
Mechanical properties | |
Microstructure | |
Oxidation | |
Raman spectroscopy | |
Reactive sputtering | |
Transmission Electron Microscopy | |
Note générale: | SCOPUS: ar.j |
Langue: | Anglais |
Identificateurs: | urn:issn:0040-6090 |
info:doi/10.1016/j.tsf.2011.04.115 | |
info:pii/S004060901100931X | |
info:scp/79958234538 |