par Bernier, Nicolas;Xhoffer, Chris;Van De Putte, Tom;Galceran Mestres, Montserrat ;Godet, Stéphane
Référence Materials characterization, 86, page (116-126)
Publication Publié, 2013
Référence Materials characterization, 86, page (116-126)
Publication Publié, 2013
Article révisé par les pairs
Titre: |
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Auteur: | Bernier, Nicolas; Xhoffer, Chris; Van De Putte, Tom; Galceran Mestres, Montserrat; Godet, Stéphane |
Informations sur la publication: | Materials characterization, 86, page (116-126) |
Statut de publication: | Publié, 2013 |
Sujet CREF: | Physique de l'état condense [supraconducteur] |
Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.] | |
Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.] | |
Mécanique sectorielle | |
Métallurgie et mines | |
Technologie des autres industries | |
Mots-clés: | Aluminium nitride |
Electron energy-loss spectroscopy | |
Grain-oriented electrical steel | |
Precipitate | |
Transmission electron microscopy | |
Note générale: | SCOPUS: ar.j |
Langue: | Anglais |
Identificateurs: | urn:issn:1044-5803 |
info:doi/10.1016/j.matchar.2013.09.014 | |
info:pii/S1044580313002891 | |
info:scp/84886689761 |