par Vandencasteele, Nicolas 
;Merche, Delphine ;Reniers, François
Référence Surface and interface analysis, 38, 4, page (526-530)
Publication Publié, 2006-04
;Merche, Delphine ;Reniers, François Référence Surface and interface analysis, 38, 4, page (526-530)
Publication Publié, 2006-04
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Vandencasteele, Nicolas; Merche, Delphine; Reniers, François |
| Informations sur la publication: | Surface and interface analysis, 38, 4, page (526-530) |
| Statut de publication: | Publié, 2006-04 |
| Sujet CREF: | Physique de l'état condense [supraconducteur] |
| Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.] | |
| Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.] | |
| Physique des surfaces | |
| Chimie | |
| Métallurgie | |
| Chimie des solides | |
| Mots-clés: | Plasma |
| PTFE | |
| PVDF | |
| PVF | |
| XPS | |
| Note générale: | SCOPUS: cp.j |
| FLWIN | |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:0142-2421 |
| info:doi/10.1002/sia.2255 | |
| info:scp/33646593541 |
