par Nassim, Abdel-Karim;Joannes, Luc ;Cornet, Alain
Référence Applied optics, 38, 12, page (2467-2470)
Publication Publié, 1999-04
Article révisé par les pairs
Titre:
  • In-plane rotation analysis by two-wavelength electronic speckle interferometry
Auteur:Nassim, Abdel-Karim; Joannes, Luc; Cornet, Alain
Informations sur la publication:Applied optics, 38, 12, page (2467-2470)
Statut de publication:Publié, 1999-04
Sujet CREF:Optique
Physique atomique et moléculaire
Note générale:SCOPUS: ar.j
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:0003-6935
info:scp/0042231911