par Gagliolo, Matteo ;Van Vaerenbergh, Kevin;Rodriguez, Abdel;Nowe, Ann ;Goossens, Stijn;Pinte, Gregory;Symens, Wym
Editeur scientifique Van der Putten, Peter;Veenman, Cor;Vanschoren, Joaquin;Menno, Israel;Blockeel, H.
Référence Benelearn 2011, Annual Belgian Dutch Conference on Machine learning(20th: 2011-05-20: The Hague, Netherlands), page (115-116)
Publication Publié, 2011-05-20
Publication dans des actes
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