Titre:
  • Effect of deposition rate on the microstructure of electron beam evaporated nanocrystalline palladium thin films
Auteur:Amin-Ahmadi, Behnam; Idrissi, H.; Galceran Mestres, Montserrat; Colla, M.S.; Raskin, J.P.; Pardoen, T.; Godet, Stéphane; Schryvers, Dominick
Informations sur la publication:Thin solid films
Statut de publication:Publié, 2013
Sujet CREF:Sciences de l'ingénieur
Mots-clés:Deposition rate
Grain boundary
Palladium
Texture
Thin film
Twin boundary
Note générale:SCOPUS: ar.j
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:0040-6090
info:doi/10.1016/j.tsf.2013.05.083
info:pii/S0040609013008985
info:scp/84879416199