par Kruse, Norbert ;Chenakin, Sergiy
Référence Characterization of Solid Materials : From Structure to Surface Reactivity, Wiley-VCH, Vol. Chap. 11, Chap. 11
Publication A Paraître, s.d.
Partie d'ouvrage collectif
Titre:
  • Low Energy Ion Scattering (LEIS) and Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
Auteur:Kruse, Norbert; Chenakin, Sergiy
Informations sur la publication:Characterization of Solid Materials : From Structure to Surface Reactivity, Wiley-VCH, Vol. Chap. 11, Chap. 11
Statut de publication:A Paraître, s.d.
Sujet CREF:Catalyses hétérogène et homogène
Mots-clés:Amorphous metallic alloys
Catalysts
Ion scattering spectroscopy
Low-energy ion scattering
Metal surfaces
Secondary ion mass spectrometry
Surface analysis
Note générale:SCOPUS: ch.b
Langue:Anglais
Identificateurs:info:doi/10.1002/9783527645329.ch11
info:scp/84874085179