Titre:
  • Mesures expérimentales des critères d'adaptation de HPT SiGe/Si et InGaAs/InP
Auteur:Schiellein, Julien; Polleux, Jean-Luc; Duport, Francois; Algani, Catherine; Merlet, Thomas; Zerounian, Nicolas; Riet, Muriel; Godin, Jean Cléo; Scavennec, André
Informations sur la publication:16ème Journées Nationales des Microondes
Statut de publication:Publié, 2009
Sujet CREF:Optique non linéaire
Optique des fibres (électromagnétisme)
Optique
Hyperfréquences
Circuits intégrés
Langue:Anglais