Titre :
  • TEM and X-ray diffraction investigation of the structural characteristics of the microporous oxide film formed on polycrystalline Ti
Auteur : Gueneau De Mussy Uauy, Jean-Paul ; Langelaan, Gijs ; Decerf, Jacqueline ; Delplancke, Jean-Luc
Informations sur la publication : Scripta materialia, 48, 1, (page 23-29)
Statut de publication : Publié, 2003-01
Sujet CREF : Sciences de l'ingénieur
Mots-clés : TEM
Texture
TiO2
Titanium
X-ray diffraction
Note : SCOPUS: ar.j
Langue :
  • Anglais
Identificateurs : urn:issn:1359-6462 
info:doi/10.1016/S1359-6462(02)00323-8
info:pii/S1359646202003238