par Chenakin, Sergiy ;Galstyån, G. G.;ToIstogouzow, A.B.;Kruse, Norbert
Référence Surface and interface analysis, 41, 3, page (231-237)
Publication Publié, 2009-03
Article révisé par les pairs
Titre:
  • XPS and ToF-SIMS characterization of a Finemet surface: effect of heating
Auteur:Chenakin, Sergiy; Galstyån, G. G.; ToIstogouzow, A.B.; Kruse, Norbert
Informations sur la publication:Surface and interface analysis, 41, 3, page (231-237)
Statut de publication:Publié, 2009-03
Sujet CREF:Chimie
Mots-clés:Amorphous alloy
Annealing
Segregation
ToF-SIMS
Valence band
XPS
Note générale:SCOPUS: ar.j
FLWIN
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:0142-2421
info:doi/10.1002/sia.3012
info:scp/62549136620