par Chenakin, Sergiy ;Galstyån, G. G.;ToIstogouzow, A.B.;Kruse, Norbert
Référence Surface and interface analysis, 41, 3, page (231-237)
Publication Publié, 2009-03
Référence Surface and interface analysis, 41, 3, page (231-237)
Publication Publié, 2009-03
Article révisé par les pairs
Titre: |
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Auteur: | Chenakin, Sergiy; Galstyån, G. G.; ToIstogouzow, A.B.; Kruse, Norbert |
Informations sur la publication: | Surface and interface analysis, 41, 3, page (231-237) |
Statut de publication: | Publié, 2009-03 |
Sujet CREF: | Chimie |
Mots-clés: | Amorphous alloy |
Annealing | |
Segregation | |
ToF-SIMS | |
Valence band | |
XPS | |
Note générale: | SCOPUS: ar.j |
FLWIN | |
Langue: | Anglais |
Identificateurs: | urn:issn:0142-2421 |
info:doi/10.1002/sia.3012 | |
info:scp/62549136620 |