Titre :
  • Measuring electron efficiencies at CMS with early data
Auteur : Daskalakis, G. ; Evans, D ; Hill, C.S. ; Jackson, J ; Vanlaer, Pascal ; Berryhill, J. ; Haupt, J. ; Futyan, D. ; Seez, C. ; Timlin, C. ; Wardrope, D.
Statut de publication : Publié, 2008
Sujet CREF : Physique des particules élémentaires
Séries :
  • CMS EGM-07-001-PAS
Langue :
  • Anglais